参数方程t1t2的运用

诸位工程师朋友们，请保持高度警觉！若现场的系统安全等级未达标准，或设备安全防护措施存在疏漏，都可能给我们的生命安全带来不可预知的风险。

前几篇我们已经讨论了安全参数B10和诊断覆盖率DC的重要性。今天，我们将继续深入探讨安全系统中至关重要的参数——PFHD，并详细解析其失效概率的计算方法。

在计算安全架构时，我们依然遵循architecture D的规则进行计算。

在公式中，必不可少的参数包括共因失效因数ß、子系统安全失效率λDe、诊断覆盖率DC，以及寿命和验证测试间隔的最小值T1与诊断测试间隔T2。

此前，我们已经利用B10、操作次数及危险故障率计算出了部分结果。而DC和共因失效因数ß则可通过查阅IEC62061或ISO13849标准的附录来获取。

接下来，我们只需获取剩余的两个参数T1和T2，然后依据公式，即可计算出PFHD值。

其中，T1是寿命和验证测试间隔的最小值，它可以是终身值，也可为证明测试值。通过安全测试的元件通常会提供T1的相关数据。

以3RT2接触器为例，我们可以在产品手册中查找到T1的数据为20年。但请注意，在进行计算时，我们需要将其单位换算为小时，即175,200小时。

而T2则是诊断测试间隔，它有专门的计算公式，即1/C，也就是每小时操作次数的倒数。

如此一来，我们便凑齐了公式所需的所有参数，PFHD的计算工作便可大功告成。